电能质量分析仪的瞬态输出功率
使驱动IC内部的输出嵌位二极管可避免串扰现象采用介质隔离。
令转子电流分量iTr为常数，图1.1b中。电流分量iMr从0增加到额定值时电能质量分析仪，转子磁链的轨迹由CD此时转子磁链幅值变化，而转子磁链与定子磁链之间的角度基本不变。
某一输入条件下仿真计算所得的有功无功输出波形HIOKI 3418 放射温度计，图2.2aMT坐标系下。图2.2b同一条件下转子磁链与定子磁链夹角与幅值波形，由图可知，转子磁链相角与幅值的变化，基本上对应于有功功率与无功功率的变化。
图2.2a有功功率(w与无功功率(VA 图2.2b转子磁链相位(弧度)以及幅值
MT坐标系统上电能质量分析仪本身的一种特性，由上述理论分析与仿真均可知。转子电流iTr变化，则定子侧的有功功率变化，同时转子磁链矢量和定子磁链矢量的夹角亦随之变化；转子电流iMr变化，则定子侧的无功功率变化，同时转子磁链的幅值亦随之变化。因此，可以通过控制转子磁链矢量的角度和幅值来实现有功无功的调控。
哪些方面可以着手进行优化和改善电能质量分析仪，那么。以有效降低PDP整机的功耗呢？下面我对此进行定性的分析。
1电源部分
要求效率高、体积小、能够提供较大的瞬态输出功率，电源作为PDP重要组成部分。并且具有保护功能和不同输出电压按顺序启动的功能。
即功率因数校正（PFC级＋DC/DC变换的电路拓扑结构。分别有各自的开关器件和控制电路。尽管其能够获得很好的性能，传统的PDP电源一般采用两级方案。但体积过大，成本高，电路比较复杂。因此，对其进行优化改造也成了PDP电源技术研究的一个方向。
行、列驱动IC耗用量很多电能质量分析仪。其功耗大致分为三部分：逻辑部分、电平移位寄存器和高压驱动部分。正常情况下，大尺寸的PDP显示屏中。逻辑部分功耗在20mW以下，电平移位寄存器部分在200mW以下，因屏电容部分的充放电而产生的高压驱动电路的无效功耗主要来自于回路中的寄生负载—电阻分量的损耗。这种电阻分量的存在不可避免的但对于电容充放电的电能质量分析仪设计步骤，驱动IC可以通过内置能量回收电路的方式设法回收一部分。
6其他
都需要充分考虑降低无用功耗的问题，包括逻辑控制部分、主芯板等。例如，可以在逻辑控制部分采用门控时钟的方式，待机状态下关闭一切内部寄存器的动作，以此达到消除无用功耗的目的
可以看到降低PDP功耗可以从多个角度考虑，综合以上分析。正确的做法是多管齐下，齐头并进，从电源、驱动方式、荧光粉材料、放电室结构和新型高压工艺等多方面着手，以求达到最大程度的效率提高。
通过等精度测相法测量出系统电能质量分析仪的功率因数。功率因数校正则以UCC28019为核心，该系统采用MSP430F449为控制和运算核心。利用硬件电路形成闭环反馈电路，实时监测输出电压、电流。单片机提供过流保护来控制继电器以及采样和显示电压电流。利用键盘选择电能质量分析仪各种功能。LCD实时显示各操作数据，人机界面友好。图1为系统整体框图。
4系统硬件电路设计
4．1功率因数测量电路
然后经双路比较器LM393整形后利用等精度法测量相位差电能质量分析仪长时间运行时，变压器副边处通过电流互感器和电压互感器取样交流信号。得到系统功率因数。LM393整形电路如图2所示。
降低高压驱动部分的无用功耗，为了满足高压器件工作性能的需求HIOKI 3445 放射温度计。PDP驱动IC设计和工艺上需采取如下比普通的集成电路更为严格的控制措施。
与常规功率模块相比能量损耗可大大降低采用SOI电能质量分析仪工艺结构。 | 
您的位置：